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进相器可控硅晶闸管损坏识别

发布时间:2017年08月18日

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发布者:源创电气

    襄阳源创电气有限公司王工告诉我们:当进相器的晶闸管损坏后需要检查分析其原因时,可把管芯从冷却套中取出,打开芯盒再取出芯片,观察其损坏后的痕迹,判断是何原因。下面介绍几种常见现象:
 
    1、电压击穿。晶闸管因不能承受电压而损坏,其芯片中有一个光洁的小孔,有时需用扩大镜才能看见。其原因可能是管子本身耐压下降或被电路断开时产生的高电压击穿。
 
    2、电流损坏。电流损坏的痕迹特征是芯片被烧成一个凹坑,且粗糙,其位置在远离控制极上。
 
    3、电流上升率损坏。其痕迹与电流损坏相同,而其位置在控制极附近或就在控制极上。
 
    4、边缘损坏。他发生在芯片外圆倒角处,有细小光洁小孔。用放大镜可看到倒角面上有细细金属物划痕。这是制造厂家安装不慎所造成的。它导致电压击穿。
 
    进相器专用控制板和可控硅属于易损器件,欢迎广大客户电话采购进相器控制板和可控硅备用,我司厂价直销。
 
    源于科技,创新不止。襄阳源创电气有限公司电话:13508662630.

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